山東閱芯電子科技有限公司

IGBT及SiC相關功率器件測試培訓及研討會

發表時間:2020-05-09 15:25

會議信息

很榮幸邀請您參加本次論壇,為進一步交流IGBT及SiC相關功率器件測試等問題,促成科研機構跨行業、跨學科的合作,米格實驗室聯合河北省高新技術企業協會,石家莊鹿泉區科技局,中國電科13所, 科林電氣,通合電子,普興電子等相關單位將于2019年3月29日舉辦“中國半導體檢測技術論壇第二屆”,主題為“IGBT及SiC相關功率器件測試培訓及研討會”,我們在此誠摯邀請您蒞臨指導。

會議主要內容:

Si基的MOSFET、可控硅、晶閘管、FRD、IGBT及SiC SBD、MOSFET等功率半導體芯片在新能源電動汽車、光伏逆變器、充電樁、電網、高鐵等行業具有廣泛的應用。功率半導體器件及模塊靜、動態電學參數及可靠性、失效模式在產品的研發和生產階段必不可少,也是當下探討的一個熱點,對產品開發階段及量產階段都至關重要。本期檢測技術論壇特邀請中科院專家舉辦專題培訓及研討會。希望通過這次論壇,使相關用戶能夠系統地學習有關知識。

一、會議組織機構排名不分先后

指導單位:河北省高新技術企業協會、石家莊鹿泉區科技局、中關村天合寬禁帶半導體技術創新聯盟、河北省知識產權維權援助中心、河北省科技企業孵化協會

主辦單位:米格實驗室

協辦單位:科林電氣、智孵寶

支持單位:普興電子、通合電子、中科院電工所、山東閱芯科技、中國電科13所、石家莊科技大市場

面向群體:相關科研單位及相關企業

二、會議時間與地點

會議時間:2019年3月29日09:00-15:30

會議地點:河北省石家莊市紅旗大街科林電氣南區報告大廳。

、會議議程

會議議程

會議時間: 2019/03/29

會議地點: 河北省石家莊市紅旗大街科林電氣南區報告大廳。

時間

會議內容

8:30-8:50

簽到


8:50-9:00

開場致辭


9:00-10:20

功率半導體器件測試原理及失效模式、功率半導體器件最新的測試技術

張文亮博士

10:40-12:00

IGBT技術規格參數的定義及測試原理、IGBT可靠性測試方法及相關標準、IGBT測試設備選型建議

張瑾博士

12:00-13:30

午餐科林電氣食堂


13:30-14:00

科林電氣工廠參觀交流


14:00-15:30

研討交流會

(與會專家與科林電氣、通合電子、普興等知名企業代表針對功率芯片的應用進行交流研討)


15:30

會議結束



、專家介紹、報告摘要排名不分先后

張文亮博士:

      張文亮,博士,山東閱芯電子科技有限公司聯合創始人兼首席技術官。2015年畢業于中科院微電子所,研究方向為高壓IGBT/FRD以及RC-IGBT器件設計。2015~2017年在ABB中國研究院工作,主要從事功率半導體測試及可靠性相關研究。2017至今在山東閱芯電子科技有限公司工作,負責開發功率半導體器件測試相關設備及數據分析平臺。

培訓課程:

1.功率半導體器件測試原理及失效模式

2.功率半導體器件最新的測試技術

張瑾博士

       張瑾,博士,北京人,高級工程師。2010年7月畢業于北京航空航天大學,材料加工專業,同年加入中國科學院電工研究所。2012年至2013年,負責籌建了中國科學院電工研究所高頻場控功率器件及裝置產品質量檢驗中心,該中心是我國首家獲得國家CNAS和CMA二合一認證的大功率IGBT器件國家級第三方檢測實驗室。自2014年至今,張瑾博士一直負責電工所功率器件CNAS實驗室的技術及質量體系管理工作,并長期從事IGBT模塊測試方法、熱模型與仿真、失效機理及可靠性研究。多次承擔國家科技部02專項IGBT產業化項目課題、國家重點研發計劃碳化硅器件可靠性測試方法研究以及北京市科委功率器件測試平臺建設等課題的研究工作。近五年來,發表功率器件測試及可靠性相關論文20篇,申請專利20余項,牽頭起草相關測試標準3項。

培訓課程:

1.IGBT技術規格參數的定義及測試原理

2.IGBT可靠性測試方法及相關標準

3.IGBT測試設備選型建議


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